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- 进口x射线荧光光谱仪|微焦斑xrf元素分析仪|x荧光镀层测厚仪
详细信息
品牌：进口 加工定制：是 型号：微焦斑 光源：x射线 重量：m g 进口x射线荧光光谱仪|微焦斑xrf元素分析仪|x荧光镀层测厚仪|ft,maxxi和x-strata系列xrf光谱仪微束xrf涂层厚度和材料分析仪，方便快速进行质量控制和验证测试，在几秒内即可获得准确的数据。
基于x-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13al到92u的固体或液体样品。
进口x射线荧光光谱仪|微焦斑xrf元素分析仪|x荧光镀层测厚仪|ft,maxxi和x-strata系列xrf光谱仪应用：
■微焦斑 xrf 光谱仪应用于 pcb、半导体和电子行业
▲pcb / pwb 表面处理
控制表面处理工艺的能力决定线路板的品级、可靠性和寿命。根据ipc 4556和ipc 4552a测量非电镀镍（en，nip）电镀厚度和成分结构。日立分析仪器产品帮助您在严控的范围内持续运营，确保高质量并避免昂贵的返工。
▲电力和电子组件的电镀
零件必须在规格范围内被电镀，以达到预期的电力、机械及环境性能。 开槽的x-strata和maxxi系列产品 ，可以测量小的试片或连续带状样品，从而达到 引线框架（引线框架）、连接器插针、线材和端子的上、中和预镀层厚度的控制。
▲ic 载板
半导体器件越来越小巧而复杂，需要分析设备测量其在小区域上的薄膜。日立分析仪器的分析仪设计为可为客户所需应用提供高准确性分析，及重复性好的数据。
▲服务电子制造过程 （ems、ecs）
结合采购和本地制造的组件及涉及产品的多个测试点，实现从进厂检查到生产线流程控制，再到*终质量控制。日立分析仪器的微焦斑xrf产品帮助您在全生产链分析组件、焊料和*终产品，确保每个阶段的质量。
▲光伏产品
对可再生能源的需求不断增加，而光伏在收集太阳能量方面扮演着重要的角色。有效收集这种能量的能力一部分取决于薄膜太阳能电池的质量。微束xrf可帮助保证这些电池镀层的准确度和连贯性，从而确保*高效率。
▲受限材料和高可靠性筛查
与复杂的全球供应链合作，验证和检验从供应商处收到的材料至关重要。使用日立分析仪器的xrf技术，根据iec 62321方法检验进货是否符合rohs和elv等法规要求，确保高可靠性涂镀层被应用于航空和军事领域。
x-strata920
正比计数器x-strata920
高分辨率 sddft110a
正比计数器maxxi 6
高分辨率 sddft150高分辨率 sdd毛细管聚焦光学系统 enig ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ enepig ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ 非电镀镍厚度和组成 (ipc 4556, ipc 4552) 无 ★★☆ 无 ★★★ ★★★ 非电镀镍厚度 ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ 浸镀银 ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ 浸镀锡 ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ hasl ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ 无铅焊料（如 sac) ★☆☆ ★★☆ ★☆☆ ★★★ ★★★ cigs 无 ★★☆ 无 ★★★ ★★★ cdte 无 ★★☆ 无 ★★★ ★★★ 纳米级薄膜分析 无 ★★☆ 无 ★★★ ★★★ 多层分析 ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ iec 62321 rohs 筛选 无 无 无 ★★★ 无 检测特征 < 50 µm 无 无 无 无 ★★★ 模式识别软件 无 无 ★★★ 无 ★★★
■微焦斑 xrf 光谱仪应用于金属表面处理
▲耐腐蚀性
检验所用涂层的厚度和化学性质，以确保产品在恶劣环境下的功能性和使用寿命。轻松处理小紧固件或大型组件。
▲耐磨性
通过确保磨蚀环境中关键部件的涂层厚度和均匀度，预防产品故障。复杂的形状、薄或厚的涂层和成品都可被测量。
▲装饰性表面
当目标是实现无瑕表面时，整个生产过程中的质量控制至关重要。通过日立分析仪器的多种测试设备，您可以可靠地检测基材，中间层和顶层厚度。
▲耐高温
在极端条件下进行的零件的表面处理必须被控制在严格公差范围内。确保符合涂镀层规格、避免产品召回和潜在的灾难性故障。
x-strata920正比计数器 x-strata920高分辨率sdd ft110a正比计数器 maxxi 6高分辨率sdd ft150 高分辨率sdd zn / fe, fe 合金
cr / fe, fe 合金
ni / fe, fe 合金★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ znni / fe, fe 合金
znsn / fe, fe 合金★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ nip / fe
nip / cu
nip / al★★☆
(仅厚度)★★☆
(厚度和成分)★★☆
(仅厚度)★★★
(厚度和成分)★★★
(厚度和成分)ag / cu
sn / cu★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ cr / ni / cu / abs ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ au / pd / ni /cuzn ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ wc / fe, fe 合金
tin / fe, fe 合金★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ 纳米级薄膜分析 无 ★★☆ 无 ★★★ ★★★ 多层分析 ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ iec 62321 rohs 筛选 无 无 无 ★★★ 无 dim可变焦测试系统 无 无 ★★★ 无 无 模式识别软件 无 无 ★★★ 无 无
进口x射线荧光光谱仪|微焦斑xrf元素分析仪|x荧光镀层测厚仪|ft,maxxi和x-strata系列xrf光谱仪产品型号：
1、x-strata920
→正比计数器或高分辨率 sdd
→元素范围：钛 - 铀，或铝 - 铀（sdd）
→样品舱设计：开槽式
→xy 轴样品台选择： 固定台、加深台、自动台
→*大样品尺寸：270 x 500 x 150毫米
→*大数量准直器：6
→滤光片：1
→*小的准直器：0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)
→smartlink 软件
2、ft110a
¨正比计数器系统
¨元素范围：钛 - 铀
¨样品舱设计：开闭式或开槽式
¨xy 轴样品台选择： 开闭式固定台、开闭式程控台、开槽式固定台、开槽式程控台
¨*大样品尺寸：500 x 400 x 150 毫米
¨*大数量准直器：4
¨滤光片：1
¨*小的准直器：0.05 毫米
¨x-ray station 软件
3、maxxi 6
⌂高分辨率 sdd
⌂元素范围： 铝 - 铀
⌂样品舱设计：开槽式
⌂xy 轴样品台选择：固定台、自动台
⌂*大样品尺寸：500 x 450 x 170毫米
⌂*大数量的准直器：8
⌂滤光片：5
⌂*小的准直器： 0.05 x 0.05毫米(2 x 2 mil)
⌂smartlink 软件
4、ft150
◊高分辨率 sdd
◊元素范围： 铝 - 铀
◊样品舱设计：开闭式
◊xy 轴样品台选择：自动台、晶片样品台
◊*大样品尺寸：600 x 600 x 20 毫米
◊滤光片：1 或 3
◊毛细聚焦管 < 20 µm
◊xrf控制软件
如果您想了解更多进口x射线荧光光谱仪|微焦斑xrf元素分析仪|x荧光镀层测厚仪|ft,maxxi和x-strata系列xrf光谱仪的产品信息，或有进口x射线荧光光谱仪|微焦斑xrf元素分析仪|x荧光镀层测厚仪|ft,maxxi和x-strata系列xrf光谱仪的采购需求，请联系上海铸金分析仪器有限公司。
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