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日立扫描电子显微镜su9000(sem)

日立扫描电子显微镜su9000(sem)是日立公司2011年推出的超高分辨冷场发射扫描电镜，达到扫描电镜二次电子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。

日立su9000采取了新改进的真空系统和电子光学系统，不仅分辨率性能明显提升，而且作为一款冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的flashing操作，可以高效率的快速获取样品超高分辨扫描电镜图像。
扫描电镜sem|日立扫描电镜|冷场发射扫描电镜su9000的特点：
1. 新型电子光学系统设计达到扫描电镜高分辨率：二次电子0.4nm（30kv），stem 0.34nm（30kv）。
2. hitachi设计的e×b系统，可以自由控制se和bse检测信号。
3. 全新真空技术设计使得su9000冷场发射电子束具有超稳定和高亮度特点。
4. 新物镜设计显著提高低加速电压条件下的图像分辨率。
5. stem的明场像能够调整信号检测角度，明场像、暗场像和二次电子图像可以同时显示并拍摄照片。
6. 与fib兼容的侧插样品杆提高更换样品效率和高倍率图像观察效率。

进口扫描电镜|日立扫描电子显微镜|冷场发射扫描电子显微镜su9000(sem)的技术参数：

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